Microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM): análisis nanométrico de alta precisión
La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) es una técnica avanzada que permite un análisis ultradetallado de la estructura y composición de materiales a escala atómica. Combinando los principios de la microscopía electrónica de transmisión ( TEM ) y la microscopía electrónica de barrido ( SEM ), ofrece imágenes de alta resolución y capacidades avanzadas de análisis químico. Ampliamente utilizada en los campos de la nanotecnología, los semiconductores, los materiales poliméricos y la biología , esta técnica es esencial para la caracterización de estructuras complejas.
¿Cómo funciona la microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM)?
La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) se basa en un haz de electrones enfocado que atraviesa una muestra ultrafina (<100 nm de espesor). A diferencia de la TEM convencional, la imagen se obtiene escaneando punto por punto, lo que permite un mapeo químico y estructural extremadamente detallado.
Las principales etapas del proceso STEM:
- Emisión de haz de electrones mediante un cañón de electrones (por ejemplo, fuente FEG para una mejor resolución).
- Interacción con la muestra , permitiendo el análisis de su estructura cristalina y composición elemental.
- Detección de señales emitidas (electrones dispersos, pérdidas de energía), utilizadas para generar imágenes de alta resolución.
- Procesamiento de datos para proporcionar información precisa sobre la morfología, composición química y defectos de los materiales.
Características técnicas de la microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM)
Resolución extrema : hasta la escala atómica (< 1 nm).
Múltiples modos de imagen :
- Campo claro (BF-STEM) : observación de la estructura interna de los materiales.
- Campo oscuro anular (HAADF-STEM) : imágenes de alto contraste basadas en la masa atómica.
- Espectroscopia EDX y EELS : identificación de elementos químicos y enlaces atómicos.
Preparación específica de muestras :
- Muestras ultrafinas (< 100 nm).
- Técnicas de preparación como ultramicrotomía y haz de iones enfocado (FIB).
¿Qué muestras se pueden analizar con microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM)?
La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) es especialmente adecuada para materiales que requieren un análisis detallado de su estructura interna. Entre las principales matrices estudiadas se encuentran:
Aplicaciones industriales de la microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM)
Léa Géréec
Asesor técnico y científico
